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HDDL 電纜故障測試儀 (閃測儀) 脈沖高壓閃光測試方法說明

發(fā)布日期: 2021-09-26 點擊: 831

HDDL 電纜故障測試儀 (閃測儀) 脈沖高壓閃光測試方法說明

3、沖擊高壓閃光試驗方法(Impact flash method)

3.1 Flash方法的基本原理

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閃絡(luò)法適用于測試高阻漏電故障,其他類型的高低阻故障也可用閃絡(luò)法測試。測試方法是通過球隙對電纜施加脈沖電壓,使故障擊穿并放電,并產(chǎn)生反射電壓(或電流)。儀器記錄這一瞬間狀態(tài)的過程,并通過波形分析確定故障點的位置。它是測量高阻和閃絡(luò)故障的主要方法。同樣的采樣方式又分為電壓采樣和電流采樣。當然,細分也可以分為低端電壓采樣、電感和電阻采樣、起始端和結(jié)束端采樣。由于低端電流采樣連接簡單,

3.2 電流采樣閃光方式

閃爍法的操作方法如下:開機(上電復(fù)位)→復(fù)位(主菜單)→鍵1(工作選擇菜單)→鍵3(閃爍1)。根據(jù)作業(yè)選擇的提示菜單,閃爍分為:Flash 1和Flash兩種方式,F(xiàn)lash 1為正脈沖觸發(fā)方式(如電流采樣),F(xiàn)lash 2為負脈沖觸發(fā)方式(如電壓采樣)。根據(jù)推薦選擇當前采樣方式,所以按3進入脈沖閃光1工作模式。

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進入flash后,按照屏幕上的接線圖連接接線和采樣器閃測儀,如圖13所示。

圖13 閃-閃法電流采樣接線圖

圖 13 示意性說明:T1.3kVA/0.22kV 穩(wěn)壓器

T2.3kVA/50kV交直流高壓變壓器

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D、高壓整流硅堆,大于150kV/0.2A

C、高壓脈沖電容器,容量1~8μF,耐壓大于10kV

五、電壓表

B、電流采樣盒(配套附件)

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J. 高壓球間隙(可選配件)

除電流采樣器B外,以上設(shè)備均為外接設(shè)備,可

使用圖13所示的分體式高壓測試設(shè)備,或集成高壓電源(注意測試前高壓放大器必須連接高壓地線)。

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根據(jù)接線圖完成連接后,按“Speed”鍵選擇傳輸速度或重新輸入速度值。將增益調(diào)節(jié)旋鈕旋至1/3左右,然后按下“采樣”鍵,儀器進入等待采樣狀態(tài)。

調(diào)整球間隙和“增益”旋鈕后,再通電對故障電纜進行升壓。當電壓上升到一定值時,故障點發(fā)生閃絡(luò)放電,儀器記錄波形,可根據(jù)波形大小重新調(diào)整輸入幅值,重復(fù)采樣,閃絡(luò)測試波形如圖14所示:

波形特征分析如下:一個小的正脈沖是球隙被破壞,故障點沒有放電時電容器向電纜放電的電流脈沖(輸入幅度小或儀器靈敏度低),第二大正脈沖脈沖為故障點穿后形成的短路電流脈沖,其次是放電電流脈沖形成的第一、第二等多重反射電流脈沖,并且幅度由于衰減而逐漸減小。由于故障特性的差異以及電容器電壓和引線電感的存在,在反射正脈沖的前沿會出現(xiàn)負沖擊。在計算故障距離時閃測儀,起點為正放電脈沖的前沿,終點為二次反射正脈沖之前的負脈沖前沿。(發(fā)射脈沖為正脈沖,反射脈沖也是正脈沖但前沿有負后坐力。由于故障性質(zhì)等原因,負后坐力大小不同,但它遠小于正脈沖的幅度)

設(shè)置光標時,起點光標選擇在正脈沖上升沿與基線的交點處,結(jié)束光標選擇在負反沖下降沿與基線的交點處。如果沒有負脈沖,將結(jié)束光標設(shè)置在反射脈沖的上升沿與基線的交點處,故障顯示距離將增加10%左右。固定點時,應(yīng)壓縮粗測距離以確定參考點的位置。

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