閃測(cè)儀 ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀廠家批發(fā)

ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀的詳細(xì)介紹

ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀的詳細(xì)介紹

此目錄是由上海許繼電氣有限公司為您精心選擇的：

ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀

*第______________章介紹電纜測(cè)試儀

ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀是我公司根據(jù)用戶要求并考慮現(xiàn)場(chǎng)使用精心設(shè)計(jì)制造的新一代便攜式電纜故障測(cè)試儀。它將故障測(cè)試部分和原始電纜故障測(cè)試儀的路徑部分結(jié)合在一起，減小了體積，增加了直流電源和USB通信接口，可用于檢測(cè)低電阻，高電阻，短路，開路電路，以及各種電纜的泄漏。故障和閃絡(luò)故障可以準(zhǔn)確檢測(cè)地下電纜故障點(diǎn)的位置，電纜的長(zhǎng)度和電纜的埋入路徑。它秉承我們一貫的高科技，高精度和高質(zhì)量的宗旨，并將電纜測(cè)試的水平提高到一個(gè)新的世界。具有測(cè)試準(zhǔn)確，智能度高，適應(yīng)性廣，性能穩(wěn)定，重量輕，攜帶方便等特點(diǎn)。

儀器采用漢字系統(tǒng)，高清顯示，友好的人機(jī)界面。

整套設(shè)備的特點(diǎn)：

整套設(shè)備將故障測(cè)試和尋路部件合二為一。它由鋰電池供電，主機(jī)輕巧，便攜且便于測(cè)試。

使用具有高亮度和強(qiáng)抗干擾性的新型大屏幕LCD顯示器。

具有自己的直流電源，方便進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試和礦山電纜測(cè)試。

USB通訊接口：現(xiàn)在僅用于專業(yè)的生產(chǎn)和技術(shù)人員來(lái)調(diào)試和升級(jí)主機(jī)程序。

內(nèi)置微型打印機(jī)，可以打印傳真波形，可以在現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確分析和引導(dǎo)波形，并提供便捷的技術(shù)服務(wù)。

最新開發(fā)的當(dāng)前采樣器是一種全新的采樣方法。具有接線簡(jiǎn)單，波形分析直觀，與高壓完全隔離，對(duì)主機(jī)和操作人員安全的特點(diǎn)。

關(guān)鍵是準(zhǔn)確確定儀器的點(diǎn)，借鑒德國(guó)技術(shù)，采用先進(jìn)的聲磁同步接收技術(shù)，完全隔離外部噪聲干擾，快速確定電纜路徑和故障點(diǎn)的準(zhǔn)確位置。這是國(guó)內(nèi)類似的定點(diǎn)技術(shù)的又一項(xiàng)創(chuàng)新，為快速準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)電纜故障并減少停電損失提供了有力的保證。

整體尺寸：（長(zhǎng)×寬×高）370×180×240mm。

該測(cè)試儀用于粗略測(cè)量故障點(diǎn)到電纜一端的實(shí)際地下距離。它也可用于測(cè)量電纜的長(zhǎng)度并確定電纜中電波的傳播速度。

測(cè)試儀的框圖：_______電纜故障測(cè)試儀的框圖如圖所示（1）顯示：

ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀的主要技術(shù)性能指標(biāo)

一、測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

應(yīng)用范圍：用于測(cè)量各種電力電纜，高頻同軸電纜，本地電話電纜以及兩條或多條均勻分布的各種交叉埋線的高低電阻，短路，開路和斷開斷面和不同介質(zhì)線路和高電阻泄漏以及高電阻閃光電路故障。

測(cè)試距離：最大長(zhǎng)度不小于40Km

最短測(cè)試距離（盲區(qū)）：1?5m

測(cè)量誤差：粗略測(cè)量誤差±1％定點(diǎn)誤差±0. 2m

工作模式：低壓脈沖，支流高壓閃蒸試驗(yàn)和沖擊高壓閃蒸試驗(yàn)。

采樣率：25MHz。

機(jī)器中發(fā)射脈沖的寬度和幅度：0. 2us，100?120V； 2us，150?160V。

存儲(chǔ)容量：8KB，可以分為兩個(gè)存儲(chǔ)區(qū)域，以存儲(chǔ)和顯示兩個(gè)采樣波形以進(jìn)行比較和測(cè)量。

顯示分辨率：V / 50米，V是傳播速度m / us。

顯示模式：320×240 LCD帶背光顯示。

打印方法：機(jī)器的主面板上裝有微型打印機(jī)，用于記錄測(cè)試日期和測(cè)試波形數(shù)據(jù)。

功率及功耗：交流200V±10％或內(nèi)置直流電源，功耗不大于10W； DC 6V（7AH）功耗不超過(guò)6W。

體積：300×400×180mm（長(zhǎng)×寬×高）。

第2節(jié)儀表板和操作功能

高壓電纜故障測(cè)試儀的面板和鍵盤如圖所示（2）顯示：

計(jì)算機(jī)USB通信接口：現(xiàn)在僅適用于專業(yè)生產(chǎn)和技術(shù)人員進(jìn)行調(diào)試和輸入程序。

儀器指示燈分別為：充電，欠壓，脈沖寬度（0. 2 / 2）。

輸入和輸出插座：儀器使用BNC-50KY（Q 9）插座，用于輸入和輸出測(cè)試信號(hào)的連接電纜。

輸入幅度：用于調(diào)整輸入和輸出脈沖的幅度。使用時(shí)，應(yīng)根據(jù)屏幕上顯示的波形進(jìn)行調(diào)整。如果調(diào)整幅度太小，則脈沖反射會(huì)非常小，甚至無(wú)法采樣，如圖所示[3）。調(diào)整幅度太大時(shí)，反射的脈沖將不會(huì)與基線相交，甚至與基線將變成一條對(duì)角線，如圖（4）。通常在采樣之前），輸入幅度旋鈕旋轉(zhuǎn)大約1/3，然后根據(jù)波形大小進(jìn)行調(diào)整，然后重新采樣。

對(duì)比度調(diào)節(jié)旋鈕：調(diào)節(jié)此旋鈕可使文字顯示清晰，無(wú)條紋和干凈的背景。

脈沖寬度選擇按鈕：松開此鍵時(shí)，儀器將輸出0. 2uS脈沖；按下該鍵時(shí)，將一起輸出2uS。對(duì)于電纜的實(shí)際測(cè)試，通常首選0. 2uS。如果沒(méi)有反射后反射太小，則使用2uS進(jìn)行測(cè)試。

電源開關(guān)：儀器使用帶指示的開關(guān)。

顯示屏：儀器使用帶背光的320×240點(diǎn)矩陣夜晶顯示器，用于顯示操作菜單，測(cè)試波形，測(cè)試結(jié)果，日期等。

微型打印機(jī)：本儀器使用4針24行微型打印機(jī)。用于打印測(cè)試波形，測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試日期等。

SEL鍵：自檢鍵，按此鍵，打印機(jī)將打印自檢數(shù)據(jù)參數(shù)，用于檢查打印機(jī)頭和驅(qū)動(dòng)電路的質(zhì)量。

LP鍵：進(jìn)紙鍵，按此鍵移動(dòng)進(jìn)紙機(jī)構(gòu)，打印針將停止工作。打印機(jī)更換打印紙時(shí)，請(qǐng)使用此鍵。

鍵盤功能介紹：

該儀器使用14個(gè)輕觸鍵作為控制功能鍵，其中12個(gè)是雙重功能鍵。鍵盤布局如圖（5）：

每個(gè)鍵的功能如下：

0-9數(shù)字鍵：開機(jī)重置時(shí)，數(shù)字鍵可以輸入年，月和日。在測(cè)試狀態(tài)下（不在菜單狀態(tài)下，下同），它可以測(cè)量故障和總長(zhǎng)度。當(dāng)屏幕的左上角顯示“ Enter當(dāng)速度為000”時(shí)，使用數(shù)字鍵輸入已知速度值；否則，使用數(shù)字鍵輸入已知速度值。在脈沖速度狀態(tài)下，使用數(shù)字鍵輸入已知的電纜長(zhǎng)度。簡(jiǎn)而言之，當(dāng)屏幕提示您輸入數(shù)據(jù)時(shí)，0-9鍵是數(shù)字鍵，否則是其他功能鍵。

單波形和雙波形顯示選擇鍵：按此鍵可將屏幕從雙波形顯示切換為單波形顯示（顯示雙波形時(shí)，屏幕的上半部分顯示2個(gè)波形，下半部分顯示1個(gè)波形）。儀器開機(jī)（復(fù)位）后，儀器默認(rèn)為上下雙波形顯示以及存儲(chǔ)區(qū)1（1個(gè)波形）的操作模式。一次按下此鍵將切換到全屏單波形顯示模式。

該儀器有兩個(gè)存儲(chǔ)區(qū)域。開機(jī)（重置）后，默認(rèn)存儲(chǔ)區(qū)1存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。當(dāng)存儲(chǔ)區(qū)域2（波形中選擇了2）進(jìn)行操作，這將在第二波形顯示區(qū)域（屏幕上顯示）。一半）先前采樣的波形出現(xiàn)，這是一個(gè)正常的現(xiàn)象。再次按下采樣按鈕，當(dāng)前采樣的波形將替換上次存儲(chǔ)的波形。

1/2上下波形選擇鍵：儀器內(nèi)部有兩個(gè)波形存儲(chǔ)區(qū)。使用此鍵選擇其中一項(xiàng)進(jìn)行主要操作（包括采樣，擴(kuò)展，打印等）。開機(jī)并復(fù)位后，默認(rèn)情況下它將自動(dòng)在存儲(chǔ)區(qū)1（1個(gè)波形）上運(yùn)行（屏幕的下半部分將在雙屏顯示中顯示存儲(chǔ)區(qū)1的波形，并顯示為“ 1”或“波形前面的2英寸）。當(dāng)按下此鍵時(shí)，將在存儲(chǔ)區(qū)域2上執(zhí)行操作（波形2），再次按下此鍵將成為對(duì)存儲(chǔ)區(qū)域1的波形進(jìn)行操作，依此類推。

起點(diǎn)鍵：在測(cè)試狀態(tài)屏幕上顯示波形時(shí)，當(dāng)光標(biāo)移至測(cè)試波形校準(zhǔn)的起點(diǎn)時(shí)，請(qǐng)按起點(diǎn)鍵以確認(rèn)波形計(jì)算的起點(diǎn)。然后將光標(biāo)移到波形的末尾以顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。當(dāng)光標(biāo)來(lái)回移動(dòng)時(shí)，顯示的數(shù)據(jù)也會(huì)相應(yīng)更改。

光標(biāo)移動(dòng)鍵（）（）：按此鍵可在下面的波形上上下移動(dòng)垂直光標(biāo)，該光標(biāo)用于重疊和分離波形。 （）（）光標(biāo)左右移動(dòng)鍵：按下這兩個(gè)鍵可將光標(biāo)左右移動(dòng)。

快速/慢速鍵（←）（→）：按一次，當(dāng)波形下方出現(xiàn)1時(shí)，（）（）是快速鍵，按一次可將光標(biāo)移至8點(diǎn)矩陣單位；當(dāng)波形下方出現(xiàn)2時(shí)，（）（）鍵為慢動(dòng)作鍵，按一次可將光標(biāo)移動(dòng)1點(diǎn)矩陣單位。

采樣鍵：在測(cè)試狀態(tài)下，按采樣鍵后，儀器處于等待狀態(tài)。當(dāng)?shù)蛪好}沖信號(hào)或高壓閃絡(luò)脈沖信號(hào)到達(dá)并觸發(fā)控制電路時(shí)，儀器開始工作，記錄脈沖反射信號(hào)并處理顯示。再次按下采樣鍵后，當(dāng)前采樣的波形將替換最后存儲(chǔ)的波形。

在故障測(cè)試中，應(yīng)在按采樣鍵之前重新調(diào)整輸入幅度。重復(fù)操作幾次，直到顯示波形標(biāo)準(zhǔn)為止。

擴(kuò)展鍵：在非鍵狀態(tài)下，此鍵是用于擴(kuò)展波形顯示的功能鍵。按此鍵可將顯示的波形水平擴(kuò)展13倍。每按一次，波形將擴(kuò)展1倍。當(dāng)顯示屏的右上角顯示01時(shí)，波形已擴(kuò)展了13倍。再次按此鍵可恢復(fù)波形壓縮狀態(tài)。

速度鍵（）：Enter和速度鍵是相同的鍵。使用數(shù)字鍵輸入速度值和電纜長(zhǎng)度值時(shí)，必須按“”（Enter）鍵確認(rèn)數(shù)據(jù)，否則機(jī)器處于等待狀態(tài)，無(wú)法工作（不采樣）。在測(cè)試狀態(tài)下，測(cè)量故障和測(cè)量總長(zhǎng)度時(shí)，此鍵用于選擇儀器中存儲(chǔ)的四個(gè)常用的傳輸速度值。連續(xù)按下該鍵時(shí)，屏幕右上角的提示將更改為輸入速度000的值，使用數(shù)字鍵輸入被測(cè)電纜的傳輸值，然后按Enter確認(rèn)。

通過(guò)閃光測(cè)試設(shè)置的四根電纜的波速為：

油浸紙電纜：V = 160m / Us PVC電纜：V = 184m / uS

交聯(lián)聚乙烯電纜：V = 172m / uS無(wú)滴電纜：V = 144m / uS

如果需要重新確定起點(diǎn)光標(biāo)，可以使用擴(kuò)展鍵壓縮或展開波形，然后將光標(biāo)移至波形的起點(diǎn)，按起點(diǎn)進(jìn)行確認(rèn)，然后移動(dòng)光標(biāo)，屏幕將再次顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。

打印鍵（←）：用數(shù)字輸入年，月，日，速度和長(zhǎng)度時(shí)，如果輸入數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，請(qǐng)按此鍵修改錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。按一次可以從右到左修改一位數(shù)字。修改后，顯示的數(shù)據(jù)為“ 0”，您可以重新輸入正確的數(shù)據(jù)。打印功能：在測(cè)試狀態(tài)下，按此鍵即可使打印機(jī)工作。在操作過(guò)程中，在顯示正常測(cè)試波形并確定光標(biāo)起點(diǎn)和光標(biāo)終點(diǎn)后，按打印鍵。打印機(jī)將打印主要操作波形和測(cè)試數(shù)據(jù)。

重置鍵：這是系統(tǒng)硬重置鍵。無(wú)論儀器處于任何狀態(tài)，都可以按此鍵返回主菜單。

電源輸入插座：本儀器使用50Hz，220V交流電源。在對(duì)路徑進(jìn)行充電和測(cè)試時(shí)使用。插入電源，儀器處于充電狀態(tài)。充電時(shí)間取決于剩余電池電量，并且充電時(shí)間不確定。電池充滿電后，儀器將自動(dòng)受到保護(hù)。

通過(guò)上面介紹的各種組件和關(guān)鍵功能，您基本上可以掌握測(cè)試儀的使用。

ST-3000高壓電纜故障測(cè)試儀的操作菜單介紹

打開電源，重啟電源后，*屏幕顯示為版權(quán)標(biāo)記，如圖（6）

開機(jī)狀態(tài)示意圖。

依次輸入年，月和日時(shí)，它將自動(dòng)進(jìn)入第二個(gè)屏幕，或按“重置”直接進(jìn)入作業(yè)選擇菜單。

“作業(yè)選擇”菜單

“脈沖”模式菜單，從主菜單中選擇1進(jìn)入脈沖菜單。

按鍵可以根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要進(jìn)行選擇。

三、測(cè)試顯示主界面介紹

主界面分為三個(gè)區(qū)域，上部是計(jì)算參數(shù)和結(jié)果區(qū)域，如圖（7）。

中間是波形顯示區(qū)域（采樣前的接線圖），可以根據(jù)需要顯示一個(gè)或兩個(gè)波形。垂直線光標(biāo)和時(shí)間刻度同時(shí)顯示。

下面是狀態(tài)和日期顯示區(qū)域。狀態(tài)顯示分別為脈沖直接閃爍和閃爍1、閃爍2。在測(cè)量脈沖的總長(zhǎng)度和測(cè)量故障時(shí)，提示選擇速度，在測(cè)量速度時(shí)，提示輸入全長(zhǎng)值。閃光測(cè)試狀態(tài)僅建議速度選擇。

第3節(jié)電纜故障測(cè)試步驟和測(cè)試方法選擇

在確定電纜故障之前，測(cè)試人員除了掌握機(jī)器的性能和操作方法外，還必須首先確定電纜故障的性質(zhì)，以便采用適當(dāng)?shù)墓ぷ鞣椒ê蜏y(cè)試方法。

首先，使用兆歐表或萬(wàn)用表測(cè)量電纜一端的每一相與每一相之間的絕緣電阻，并確定它是低電阻短路還是斷開的斷路，還是高電阻根據(jù)電阻值發(fā)生閃絡(luò)故障。

當(dāng)電阻低于200-300 ohm時(shí)，這是低電阻故障，0 ohms是短路故障，并且電阻極高，甚至無(wú)限大，如開路或斷開故障。無(wú)論電線是否斷裂，您也可以將電纜端子連接到萬(wàn)用表，以測(cè)量在開始時(shí)已短路的兩相的電阻，以進(jìn)行確認(rèn)。這種類型的故障可以通過(guò)低脈沖方法直接測(cè)量。

當(dāng)電阻非常高（數(shù)百兆和千兆字節(jié)）并且在高壓實(shí)驗(yàn)期間存在瞬時(shí)放電時(shí)，此類故障通常稱為閃絡(luò)故障，可以通過(guò)直流高壓閃絡(luò)測(cè)試方法確定。

高電阻故障：電阻值高于低電阻故障，并且是在高壓測(cè)試期間通過(guò)直流高壓閃光測(cè)試方法確定的。

以某種方式進(jìn)行粗略測(cè)試后，確定要點(diǎn)。如有必要，找到電纜路徑并測(cè)量電纜長(zhǎng)度或距離。

第二章低壓脈沖測(cè)試方法

低壓脈沖測(cè)試方法具有操作簡(jiǎn)單，易于識(shí)別波形，精度高的特點(diǎn)。對(duì)于短路，低電阻和斷線故障，可以使用此方法直接測(cè)試故障距離。即使沒(méi)有此類故障，也可以使用低壓脈沖法在常規(guī)高壓閃絡(luò)測(cè)試之前測(cè)量電纜的長(zhǎng)度或速度。與閃絡(luò)測(cè)試波形相比，通常有利于波形分析并達(dá)到快速確定故障點(diǎn)的目的。

部分*低壓脈沖測(cè)試的基本原理

在測(cè)量電纜故障時(shí)，可以將電纜視為均勻分布的傳輸線理論。當(dāng)在電纜的一端施加脈沖電壓時(shí)，脈沖將以一定的速度（由電纜的介電常數(shù)和磁導(dǎo)率決定）沿著線路傳輸。遇到故障點(diǎn)（或阻抗不均勻的點(diǎn)）時(shí)，會(huì)發(fā)生反射。用閃測(cè)儀記錄發(fā)射脈沖和反射脈沖之間的傳輸時(shí)間△T，可以根據(jù)已知的傳輸速度VLx，Lx = V·△T / 2閃測(cè)儀，計(jì)算出到故障點(diǎn)的距離，示例圖片（8）顯示：

末端反射脈沖可用于測(cè)量總長(zhǎng)度：L = V·T / 2

當(dāng)也知道全長(zhǎng)時(shí)，可以測(cè)量傳輸速度：V = 2L / T

用低壓脈沖測(cè)試法測(cè)量總長(zhǎng)度

測(cè)量全長(zhǎng)的操作步驟如下：上電（上電復(fù)位），復(fù)位（主菜單），一鍵1（工作選擇菜單），一鍵1（脈沖菜單），一鍵1（總長(zhǎng)度測(cè)量），然后根據(jù)屏幕顯示接線圖接線，如圖（9）：

使用脈沖法進(jìn)行測(cè)試時(shí)，根據(jù)圖進(jìn)行連接后，根據(jù)要測(cè)試的電纜類型選擇合適的傳輸速度和脈沖寬度，將輸入幅度電位器的位置調(diào)整為1/3，然后按樣本按鈕。

根據(jù)顯示的波形大小，調(diào)整幅度電位器并重新采樣。當(dāng)0. 2us脈沖寬度輸入幅度最大且反射波最大時(shí)，選擇2us脈沖測(cè)試。為了便于比較，可以將故障相和另一個(gè)良好相分別連接以進(jìn)行兩次采樣，如上面的圖6所示。按（）（）鍵選擇單波形或雙波形顯示，使用1/2鍵更改操作區(qū)域，選擇當(dāng)前波形1或2。采樣后，移動(dòng)光標(biāo)設(shè)置起點(diǎn)，然后移動(dòng)光標(biāo)到波形反射點(diǎn)此時(shí)，屏幕上顯示的長(zhǎng)度是電纜的總長(zhǎng)度。對(duì)于短電纜，請(qǐng)更改端子短路以測(cè)量總長(zhǎng)度，并將端子反射更改為負(fù)脈沖。設(shè)置光標(biāo)時(shí)，對(duì)于開放式電纜，請(qǐng)根據(jù)傳輸?shù)恼}沖的上升沿和基線的交點(diǎn)設(shè)置光標(biāo)起點(diǎn)，并將光標(biāo)設(shè)置在反射的正脈沖的上升沿的交點(diǎn)處和基線。結(jié)束。

第3節(jié)低壓脈沖測(cè)試方法以檢測(cè)故障

脈沖法的原理與總長(zhǎng)度的原理相同，操作方法基本相同。當(dāng)脈沖菜單出現(xiàn)時(shí)，您可以選擇鍵1（沒(méi)有全長(zhǎng)），也可以選擇鍵2（用于故障檢測(cè)）。接線圖與圖中相同（9），與被測(cè)電纜的連接電纜故障相同，其他操作方法與測(cè)量總長(zhǎng)度相同。

如果是低電阻開路故障，測(cè)試波形如圖（1 0）：

設(shè)置光標(biāo)時(shí)，將發(fā)送的正脈沖的上升沿與基線的交點(diǎn)設(shè)置為起點(diǎn)，將反射的負(fù)脈沖的下降沿與基線的交點(diǎn)設(shè)置為結(jié)束。如果是短路故障，請(qǐng)按照測(cè)量總長(zhǎng)度的相同方法測(cè)試波形并固定光標(biāo)。

第4節(jié)：低壓脈沖測(cè)試方法的測(cè)量速度

在測(cè)量電纜中無(wú)線電波的傳輸速度時(shí)，必須知道電纜的總長(zhǎng)度。操作方法如下：開機(jī)（開機(jī)復(fù)位）-復(fù)位（主菜單）-一鍵1（工作選擇菜單）-一鍵1（脈沖菜單）-一鍵3（速度測(cè)量），然后按圖片（9）連接接線閃測(cè)儀，鍵入全長(zhǎng)值，然后按Enter。采樣波形和光標(biāo)設(shè)置方法與測(cè)量全長(zhǎng)時(shí)相同。分別設(shè)置光標(biāo)起點(diǎn)和終點(diǎn)后，進(jìn)行測(cè)試速度值將顯示在屏幕的左上角。

第3章沖擊高壓閃光試驗(yàn)方法（沖擊閃光方法）

閃光法的基本原理

閃光燈方法適用于測(cè)試高電阻泄漏故障。脈沖閃光測(cè)試還可以用于其他類型的高阻和低阻故障。

測(cè)試方法與直接閃光方法相同，不同之處在于，不是通過(guò)在電纜上施加直流高壓，而是通過(guò)球形間隙施加脈沖電壓，以引起故障滴答聲和放電，并產(chǎn)生故障。反射電壓（或電流）。該瞬時(shí)狀態(tài)由儀器記錄。在此過(guò)程中，通過(guò)波形分析確定故障點(diǎn)的位置。它是測(cè)量高阻和閃絡(luò)故障的主要方法。相同的采樣方法也分為電壓采樣和電流采樣。當(dāng)然，細(xì)分也可以分為低端電壓采樣，電感和電阻采樣以及起始端和結(jié)束端采樣。由于低端電流采樣連接簡(jiǎn)單，可靠，安全，并且波形易于識(shí)別，因此建議使用電流采樣方法。

第2節(jié)電流采樣閃爍方法

閃爍方法的操作方法如下：引導(dǎo)（開機(jī)復(fù)位）-重置（主菜單）-鍵1（工作選擇菜單）-鍵3（閃爍1）。根據(jù)作業(yè)選擇菜單提示，打孔Flash分為兩種方法：flash 1和flash2。flash1是正脈沖觸發(fā)方法（例如電流采樣），flash 2是負(fù)脈沖觸發(fā)方法（例如電壓采樣）。 ，選擇當(dāng)前的采樣方法，因此按3進(jìn)入閃爍的1工作模式。

進(jìn)入閃光燈后，按照屏幕上的說(shuō)明連接布線和采樣器，如圖（1 1）：

圖（1 1）：T 1、是0?250V1-2KVA穩(wěn)壓器

T 2、是高壓變壓器，功率1-3KVA

D是一個(gè)高壓整流硅疊層，大于150KV / 0. 2A（已內(nèi)置高壓實(shí)驗(yàn)變壓器）

R和是限流電阻（可選）

C和C是高壓脈沖電容器，容量為1∽8μF，耐壓大于10KV

V是直流電壓表

B。是當(dāng)前的采樣器（匹配附件）

除當(dāng)前采樣器B外，上述設(shè)備均為外部設(shè)備。該圖（也可以使用1 1）單獨(dú)的高壓測(cè)試設(shè)備，也可以使用集成的高壓電源（請(qǐng)注意，高壓放電棒必須連接到高壓接地線）進(jìn)行實(shí)驗(yàn)很好。）

根據(jù)接線圖完成連接后，使用速度鍵選擇傳輸速度或重新輸入速度值。將輸入幅度旋鈕旋轉(zhuǎn)到大約1/3，然后按采樣鍵，儀器進(jìn)入等待采樣狀態(tài)。

調(diào)整球形間隙并輸入幅度旋鈕后，打開電源以升高故障電纜的電壓。當(dāng)電壓上升到一定值時(shí)，在故障點(diǎn)會(huì)發(fā)生閃絡(luò)放電。儀器記錄波形。輸入幅度可以根據(jù)波形大小重新調(diào)整，并且可以重復(fù)采樣。閃光測(cè)試波形如圖（1 2）：

波形特性的分析如下：*一個(gè)小的正脈沖是當(dāng)球間隙斷開且故障點(diǎn)未放電時(shí)（當(dāng)輸入幅度小時(shí)或在輸入幅度很小時(shí)）電容器向電纜放電的電流脈沖。儀器的靈敏度低*可能不會(huì)出現(xiàn)小脈沖，第一個(gè)大的正脈沖是單擊故障后形成的短路電流脈沖，第二個(gè)是由故障產(chǎn)生的初級(jí)和次級(jí)反射電流脈沖放電電流脈沖，其振幅因衰減而逐漸減小，由于故障特性的差異，由于電容器電壓和引線電感的存在，在反射的正脈沖的前面會(huì)出現(xiàn)負(fù)反沖，計(jì)算故障距離時(shí)，起點(diǎn)是第一個(gè)正放電脈沖的上升沿，終點(diǎn)是第一個(gè)反射定點(diǎn)之前的負(fù)脈沖的上升沿ive脈沖。 （發(fā)射脈沖為正脈沖，反射脈沖也為正脈沖，但在前沿有反沖。由于故障的性質(zhì)和其他原因，反沖的幅度不同，但是比正脈沖的幅度小得多）

設(shè)置光標(biāo)時(shí)，在正脈沖的上升沿和基線的交點(diǎn)處選擇起點(diǎn)光標(biāo)，在負(fù)反沖力的下降沿與基線的交點(diǎn)處選擇終點(diǎn)光標(biāo)。如果沒(méi)有負(fù)脈沖，則將結(jié)束光標(biāo)置于反射脈沖的上升沿和基線的交點(diǎn)處，故障顯示距離將增加約10％。固定點(diǎn)時(shí)，應(yīng)壓縮粗略的測(cè)量距離以確定參考點(diǎn)的位置。 ）

第4章直流高壓測(cè)試方法（直接閃光方法）

直接閃爍方法適用于測(cè)量高阻閃絡(luò)故障。在實(shí)際測(cè)試中，操作方法和接線圖與閃光方法基本相同（無(wú)球隙）。直接閃光方法也分為兩種方法：電壓采樣和電流采樣。我們建議使用當(dāng)前的采樣方法。

當(dāng)故障相將直流高壓施加到特定值時(shí)，故障點(diǎn)將擊穿并短路。此時(shí)，從故障點(diǎn)產(chǎn)生反相的跳躍電壓V10。該電壓沿電纜傳輸。當(dāng)?shù)竭_(dá)起點(diǎn)時(shí)，起點(diǎn)阻抗大于電纜的特征阻抗，因此會(huì)發(fā)生2V10的向下反射。該電壓繼續(xù)向后傳輸，并在到達(dá)故障點(diǎn)后短路。因此，反射電壓為-2V1。一段時(shí)間后，負(fù)反射電壓會(huì)再次傳輸?shù)狡瘘c(diǎn)，因此會(huì)來(lái)回往復(fù)幾次。停止直到閃絡(luò)放電結(jié)束。

部分*直接Flash方法測(cè)試連接和操作步驟

根據(jù)下圖（1 3）。將高壓設(shè)備測(cè)試儀連接至被測(cè)電纜。

圖中：T 1、是3KVA / 0. 22KV穩(wěn)壓器

T 2、是3KVA / 50KV交流和直流高壓變壓器

D是高壓硅整流器堆，大于150KV / 0. 2A

C，是高壓脈沖電容器，容量為1∽2μF，耐壓小于40KV

V是電壓表，R1和R2是分壓器

B是當(dāng)前的采樣器（匹配附件）

除當(dāng)前采樣器B外，上述設(shè)備是外部設(shè)備。 （請(qǐng)注意，在測(cè)試之前，高壓放電棒必須連接到高壓接地線）

連接線路后，打開儀器以使其處于等待狀態(tài)（采樣）。以前的操作與脈沖法相同。

調(diào)整（T 1）檔，逐漸增加直流電壓，當(dāng)電壓或電流表擺動(dòng)時(shí)，表示故障點(diǎn)閃絡(luò)放電，儀器將顯示波形，調(diào)整幅度并重復(fù)采樣多次，直到接收到的波形是最好的。

使用直接閃光法進(jìn)行測(cè)試時(shí)，將操作箱電流繼電器的放大倍數(shù)設(shè)置為×1或×2，以確保一旦執(zhí)行放電就可以對(duì)其進(jìn)行保護(hù)，并且可以對(duì)波形進(jìn)行采樣。放電應(yīng)在固定點(diǎn)連續(xù)進(jìn)行，然后將電流繼電器放大倍數(shù)置于OFF文件中。

第2節(jié)高壓閃絡(luò)測(cè)試波形

測(cè)試開始時(shí)1.故障的波形如下圖所示（顯示在1 4）中：

2.中段故障的波形

3.測(cè)試端子上的故障波形

圖（1 4）測(cè)試開始時(shí)的故障波形

4.閃絡(luò)法測(cè)試波形變化規(guī)則

下圖（1 5）是我們根據(jù)閃絡(luò)測(cè)試方法的波形繪制的更改規(guī)則的圖形。只要您仔細(xì)觀察和分析，就可以在其中看到更改規(guī)則。我們希望用戶必須掌握標(biāo)準(zhǔn)波形及其在不同時(shí)間間隔內(nèi)的變化規(guī)律。

圖（1 5）閃絡(luò)法測(cè)試波形變化規(guī)則圖

Section 3 Precautions for High Voltage Flashover Test

The voltage during the high-voltage flashover test is as high as tens of thousands of volts, so the operation must be carried out in accordance with the high-voltage operating regulations. Also pay special attention to the following items:

In the high-voltage flashover test, the high-voltage test equipment should be operated by professionals, and the instrument should be connected. During the test, the power must be cut off when the connection is changed or the ball gap is adjusted, and the capacitors and cables should be fully discharged, and then connected to the ground wire.

Before the test, the faulty cable should be pressurized and discharged to ensure that there is no discharge at each connection point, and the applied voltage has caused a flashover discharge at the fault point, and then start the instrument test.

When using the flash test method to measure high-resistance faults, the user should not perform other operations on the computer, and avoid selecting the "low-voltage pulse" state for high-voltage flashover testing. The wiring of the tester should be far away from high-voltage lines.

Properly ground, that is, connect the high-voltage transformer (T2） high-voltage tail, operation box (T1） ground wire, and current sampler (JS) ground wire ends to the same point as the cable armor under test). One point grounding). All connection points must not sparkle to ensure the success of the test and the safety of equipment and personnel.

For the safety of the tester, the flashover or direct flashing state must be selected in the work menu during the flashover test. If the pulse state is wrongly selected for the high-voltage flashover test, the low-voltage pulse circuit inside the tester may be damaged.

In the test, avoid using AC power to charge the front end (閃測(cè)儀) and the computer, so that it is completely separated from the AC power source under test.

After the high-voltage flashover method is tested, the capacitor and cable must be repeatedly discharged before the low-voltage pulse method can be used to test the cable again.

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